Los dispositivos semiconductores de potencia son dispositivos electrónicos de potencia para la transformación y el control de la energía eléctrica, que desempeñan funciones de rectificación, inversor, aumento / disminución de la presión, conversión de frecuencia y así sucesivamente en circuitos eléctricos, y son ampliamente utilizados en la generación de energía nueva, vehículos eléctricos, transporte ferroviario, automatización industrial y otras industrias. Debido a que los dispositivos generalmente funcionan en varios entornos estrictos, como el nivel industrial y el nivel de especificación del vehículo, es necesario realizar pruebas de fiabilidad cargada, entre las cuales la prueba del ciclo de potencia es uno de los elementos clave de prueba para evaluar la fiabilidad del embalaje de los dispositivos de potencia.

Antecedentes del cliente

El cliente Z es un proveedor nacional de equipos de prueba de la industria de confiabilidad de componentes electrónicos y proveedor de servicios de soluciones integrales. se ha comprometido con la investigación y desarrollo, producción y servicio de equipos de prueba de confiabilidad de componentes electrónicos. se encuentra en la industria de dispositivos semiconductores de potencia, pruebas de confiabilidad de módulos IGBT y equipos de prueba de confiabilidad de circuitos integrados como soc, mcu y memory.

Puntos dolorosos de la prueba previa del cliente

Con el rápido desarrollo de dispositivos semiconductores de potencia como sic e igbt, la demanda de pruebas de fiabilidad ha aumentado. El cliente Z necesita principalmente realizar pruebas de envejecimiento del ciclo de potencia para dispositivos semiconductores de potencia, enfrentándose a los siguientes tres puntos dolorosos de prueba:

El número de pruebas de ciclo de potencia es generalmente tan alto como decenas de miles de veces, como el ciclo de potencia de segundo nivel ≥ 60000 veces y el ciclo de potencia de minuto ≥ 15000 veces. cada ciclo significa que la fuente de alimentación de calefacción debe estar conectada y desconectada una vez, como la respuesta dinámica inoportuna durante el funcionamiento de la fuente de alimentación o grandes fluctuaciones o incluso excesos de corriente, lo que tendrá un impacto negativo en el control de la energía de calefacción y el funcionamiento seguro del dispositivo de potencia;

L onda

Una onda demasiado alta puede causar sobrecalentamiento de los componentes internos del dispositivo, acortar la vida útil del dispositivo y afectar seriamente la prueba del ciclo de potencia a largo plazo;

Volumen l

En general, el sistema de prueba de ciclo de potencia requiere más de tres fuentes de alimentación de alta corriente, como el volumen de la fuente de alimentación de prueba es demasiado grande, lo que requiere que los clientes reserven más espacio de prueba.

Nuestra solución

En respuesta a las necesidades de los clientes anteriores, proporcionamos la serie n36200 de fuente de alimentación programable ultra estable y de baja onda, que satisface bien las necesidades anteriores a través de la prueba de escena real de los clientes durante mucho tiempo.

L estable y confiable

Al optimizar la selección de dispositivos, la disipación de calor del sistema y el control del bucle, se puede garantizar que la deriva de la salida de 24 horas (motor térmico de 30 minutos) ≤ 0,01%, la deriva de la salida de 1000h ≤ 0,05%, la salida de trabajo a largo plazo es estable y se admite el modo prioritario cc, lo que puede Garantizar cero sobrecorriente de la salida de alta corriente;

L onda baja

El valor efectivo de la onda de corriente irms ≤ 0,1%, la corriente de salida es más pura y sin interferencia;

Espacio provincial l

El espacio 2u admite la salida de una gran corriente de 1100 a, ahorrando espacio de prueba para los usuarios.

Además, nuestra empresa puede proporcionar medidores de fuente, fuentes de alimentación de corriente continua de nivel de tensión completa y otros productos para satisfacer las necesidades de pruebas de confiabilidad eléctrica de dispositivos semiconductores de Potencia htrb, htgb y así sucesivamente.