-
Correo electrónico
mike.zhang@baselec.com,sunny.liu@baselec.com,sales@baselec.com
-
Teléfono
13812620346,13451671799
-
Dirección
Habitación 1106, edificio donghuan, parque industrial de suzhou, Provincia de jiangsu, habitación 104, edificio 3, piso 1, parque industrial de Ciencia y tecnología cultural del distrito de dawan, guangdong, Hong Kong y australia, shangjing wenchuang, No. 2 Fumin Middle road, Dalang town, Dongguan city, 1707, edificio 3, unidad 1, edificio donghuan, parque industrial de suzhou, habitación 1106
Categorías de producto
Suzhou beise Electronic Technology co., Ltd.
Microscopía electrónica de haz de iones enfocado
NegociableActualización en02/14
- modelo
- Naturaleza del fabricante
- Productores
- Categoría de producto
- Lugar de origen
Descripción general
■ características técnicas: recopilación de información más rica en menos tiempo - acelerar la nanotomografía y el nanoprocesamiento: combinar propiedades Sem de baja tensión con haces FIB de hasta 100 na
Detalles del producto
■ características técnicas:
Recopilar información más rica en menos tiempo
Acelerar la nanotomografía y el nanoprocesamiento: combinar propiedades Sem de baja tensión con haces FIB de hasta 100 na.
Obtenga la información más rica: utilice la adquisición de múltiples detectores y la capacidad de grabado e imagen simultáneos.
Utilice la tecnología Gemini y el paquete opcional Atlas 3D para detectar un amplio rango de visión de hasta 50 k x 40 k píxeles.
Control integral del proceso
Tiene la mayor estabilidad en experimentos a largo plazo que requieren condiciones ambientales exigentes y puede proporcionar un perfil de haz uniforme y consistente.
En el momento de la adquisición se pueden realizar cambios en tiempo real en los parámetros del sistema, como la corriente de la sonda o el voltaje de aceleración, sin necesidad de ajustar la imagen.
La interfaz de usuario gráfica es intuitiva y fácil de operar.
Área de aplicación
