Introducción a la clasificación del modelo

MM/HMIntroducción a la clasificación de submodelos

MM/HMLos microscopios de medición de la serie tienen varios submodelos disponibles para que los usuarios elijan según sus sufijos, comoA、B、BT、U、F、H、MTambién se pueden combinar comoAH、FH、FHMEtc., representan diferentes configuraciones.

Instrucciones de configuración de algunos modelos secundarios comunes:

ATipo:
Equipado con un tubo de observación tricular especial para la medición, que tiene una línea de grabado cruzado incorporada, que coincideTMSerie de lentes de larga distancia de trabajo.

BTipo:
Equipado con incorporadoLEDEl iluminador universal, la cabeza óptica está construida con un módulo de microscopio metalográfico, que no sólo puede realizar mediciones de tamaño, sino también realizar observaciones metalográficas de campos abiertos, polarización simple, interferencia diferencial y otros modos.

BTTipo:
Equipado con incorporadoLEDIluminador universal, emparejadoTMSerie de lentes de larga distancia de trabajo.

FTipo:

Los iluminadores equipados sonFATipo, con función de enfoque asistido, se puede hacer con mayor precisiónZMedición de Dirección. La cabeza óptica está construida con un módulo de microscopio metalográfico, que no solo puede realizar mediciones de tamaño, sino también realizar observaciones metalográficas de varios modos, como campo abierto, campo oscuro, polarización simple e interferencia diferencial.

UTipo:
La cabeza óptica está construida con un módulo de microscopio metalográfico, que no solo puede realizar mediciones de tamaño, sino también realizar observaciones metalográficas de varios modos, como campo abierto, campo oscuro, polarización simple e interferencia diferencial.

HTipo:
ZEl eje está equipado con una regla de rejilla, compatibleMM/HMTodos los modelos, se pueden realizarZMedición de Dirección.

MTipo:
ZEjeSe puede realizar elevación eléctrica, compatibleMM/HMTodos los modelos, se pueden realizarZMedición de Dirección.