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Microscopio confocal del Olimpo ols5000

NegociableActualización en03/16

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Descripción general

El microscopio de enfoque común láser 3D del Olimpo lextols5000 el Olimpo ols50003d utiliza un sistema óptico avanzado, que puede generar imágenes de alta calidad de imagen a través de observaciones no destructivas para mediciones precisas en 3d, mediciones de rugosidad de la superficie que cumplen con los estándares iso, etc. su preparación también es muy simple y no requiere preprocesamiento de muestras.

Detalles del producto

Microscopio confocal láser 3D del Olimpo lext ols5000

El Microscopio confocal láser de medición 3D ols5000 del Olimpo utiliza un sistema óptico avanzado que puede generar imágenes de alta calidad de imagen a través de observaciones no destructivas para mediciones precisas en 3d, mediciones de rugosidad de la superficie que cumplen con los estándares iso, etc. su preparación también es muy simple y no requiere un preprocesamiento de la muestra.

LEXT OLS5000 3DEl microscopio láser de medición está equipado con dos conjuntos de sistemas ópticos (óptica de imagen en color y óptica confocal láser) que le permiten obtener información en color, información de altura e imágenes de alta resolución.

LEXT OLS5000 3DEl microscopio láser de medición tiene4Grandes valores clave:

·Captura cualquier forma de superficie.

·Obtener datos confiables rápidamente.

·Uso simple- -Basta con colocar la muestra y presionar el botón.

·Medir muestras desafiantes.

Valor1: captura cualquier forma de superficie.

OLS5000La tecnología avanzada del microscopio le permite realizar3DMedición de muestras.

Valor2Obtención rápida de datos fiables

El algoritmo de escaneo del microscopio puede mejorar tanto la calidad de los datos como la velocidad, reduciendo así su tiempo de escaneo y simplificando su flujo de trabajo.zuiFinalmente, se logrará un aumento de la productividad.

Valor3, fácil de usar, solo tiene que colocar la muestra y presionar el botón

LEXT ® OLS5000El microscopio tiene una función automática de adquisición de datos, por lo que no es necesario realizar ajustes de configuración complejos. Incluso los usuarios desconocidos pueden obtener resultados precisos de las pruebas.

Valor4, muestras medibles y desafiantes

La medición láser no destructiva de baja salida y sin contacto significa que no se necesita preparación de muestras. Se puede medir el material frágil sin dañarlo. La expansión puede acomodar hasta210Muestra milimétrica, mientras que el objetivo de larga distancia de trabajo puede medir una profundidad de hasta25Fosas milimétricas. Al medir estos dos tipos de muestras, solo tiene que poner las muestras en la Plataforma de carga.

[Obtener información en color[en inglés]
El sistema óptico de imágenes en color utiliza luz blancaLEDFuentes de luz yCMOSLa Cámara obtiene información en color.
[Acceso3DInformación de altura e imágenes confocales de alta resolución[en inglés]
El sistema óptico confocal láser utiliza405La fuente de luz de diodos láser nanométricos y el tubo Fotomultiplicador de alta sensibilidad obtienen imágenes confocales. La profundidad focal poco profunda le permite medir la irregularidad superficial de la muestra.

[405Fuente de luz láser nanométrica[en inglés]

La resolución transversal del Microscopio óptico aumenta a medida que disminuye la longitud de onda. El microscopio láser con láser de longitud de onda corta utiliza luz visible en comparación con el láser (pico)550Los microscopios tradicionales (nanometros) tienen una mejor resolución transversal.OLS5000Uso del microscopio405Los diodos láser de longitud de onda corta nanométrica obtienen una excelente resolución transversal.

[Sistema óptico confocal láser[en inglés]

El sistema óptico confocal láser solo recibe la luz enfocada a través del agujero circular de la aguja, no recoge toda la luz reflejada y dispersa de la muestra. Esto ayuda a eliminar la inexistencia y le permite obtener imágenes con mayor contraste que los microscopios ordinarios

[X-YEscáneres[en inglés]

OLS5000El microscopio está equipado con un escáner óptico del olimpo. Mediante la inducción electromagnéticaMEMSDel escáner de resonanciaXEje y adopciónGalvanoEscaneo del VibradorYLa combinación de ejes permiteX-YEl escáner se posiciona en posición de conjugación con respecto a la pupila del objetivo, logrando así una excelencia con menor distorsión de la trayectoria de escaneo y menor distorsión óptica.X-YEscaneo.

[Principio de medición de la altura[en inglés]

Al medir la altura, el microscopio obtiene múltiples imágenes confocales moviendo automáticamente la posición del foco.
Dependiendo de la posición de enfoque no continua..Z) e intensidad de la luz detectada..I) se puede estimar la curva de variación de la intensidad de cada píxel..I-ZCurva), y obtiene su posición máxima e intensidad máxima. Debido a que la posición máxima de todos los píxeles corresponde a la irregularidad de la superficie de la muestra, se puede obtener el3DInformación de forma. Del mismo modo, a través de los datos de intensidad máxima se pueden obtener imágenes (imágenes extendidas) de todos los focos de posición en la superficie de la muestra.

Especificaciones del host:

Modelo			OLS5000-SAF	OLS5000-SMF	OLS5000-LAF	OLS5000-EAF	OLS5000-EMF
Tasa de duplicación total			54x - 17,280x
Diámetro del campo de visión			16 μm - 5,120 μm
Principio de medición	Sistema óptico		Microscopio láser de escaneo confocal reflectante Microscopio láser de escaneo confocal reflectante - TIC Color Color TIC
	Elemento receptor óptico		Láser: Fotomultiplicador (2ch) Color: Cámara de color CMOS
Medición de la altura	Resolución de visualización		0.5 Nano
	Rango dinámico		16 Posición
	Repetibilidad n - 1 * 1 * 2 * 6		20x : 0.03μm, 50x : 0.012 μm, 100x : 0.012 μm
	Precisión * 1 * 3 * 6		Medidas + / - 1,5%
	Precisión de la imagen de empalme * 1 * 4 * 6		20x : 15+0.5LMu m, 50x: 9 + 0,5l mu m, 100x: 7 + 0,5l Mu M (l: longitud de empalme )
	Ruido de medición (ruido sq) * 1 * 5 * 6		1 Nano
Medición del ancho	Resolución de visualización		1 Nano
	Repetibilidad 3 n - 1 * 1 * 6		20x : 0.05μm, 50x : 0.04 μm, 100x : 0.02 μm
	Precisión * 1 * 3 * 6		Medidas + / - 1,5%
	Precisión de la imagen de empalme * 1 * 3 * 6		20x : 15+0.5LMu m, 50x: 9 + 0,5l mu m, 100x: 7 + 0,5l Mu M (l: longitud de empalme )
Gran número de Zui en puntos de medición en una sola medición			4096 x 4096Píxeles
Gran número de Zui en el punto de medición			3600 Diez mil píxeles
XYConfiguración de la Plataforma de carga		Módulo de medición de longitud	·	Ninguno	Ninguno	·	Ninguno
		Alcance del trabajo	100 x 100 mmEléctrico	100 x 100 mmManual	300 x 300 mmEléctrico	100 x 100 mmEléctrico	100 x 100 mmManual
zuiAltura de la muestra grande			100 mm	30 mm	30 mm	210 mm	140 mm
Fuente de luz láser		Longitud de onda	405 nm
		zuiGran salida	0.95 mW
		Clasificación láser	2 Categoría (iec60825 - 1: 2007, iec60825 - 1: 2014)
Fuente de luz de color			LED blanco
Potencia eléctrica			240 W	240 W	278 W	240 W	240 W
Calidad		Cuerpo del microscopio	Unos 31 kilos	Unos 30 kilos	Unos 50 kilos	Unos 43 kilos	Unos 39 kilos
		Controlador	Unos 12 kilos

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