Microscopio de detección de semiconductores

Microscopio de la serie P - con un sistema óptico perfecto y una nueva generación de tecnología óptica y una variedad de métodos de observación incorporados, como campo brillante, campo oscuro, polarización e interferencia diferencial (cid).La luz polarizada se puede utilizar para mostrar la textura y la apariencia cristalina del material.Es muy adecuado para detectar chips yLCDEstructuraV;Diferencia de interferencia diferencial(DIC)Para ayudar a observar tiene maticesMuestras altamente diferenciadasEsta tecnología es muy adecuada para detectar muestras con pequeñas diferencias de altura, como cabezales magnéticos, medios de disco duro y chips pulidos; El campo oscuro esHerramienta ideal para detectar arañazos o defectos sutiles en especímenes y muestras espejo como obleas.

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El sistema de microscopía tiene múltiples funciones y adopta un diseño fácil de usar que se ajusta a la ergonomía, que puede proporcionar el máximo 300mmObleas, pantallas planas, placas de circuito impreso,Y la observación de alta calidad de otras muestras grandes. El producto adopta un diseño modular flexible y puede proporcionar el mejor sistema de observación adecuado para una variedad de usos de inspección.

Panthera TEC

PasePasarConHuaxian OpticsEOC La combinación de software de análisis de imágenes,Facilitar al operador el acceso a las imágenes necesarias y la inspección del producto;No solo se puede observar microscópicamente la muestraObservar, pero también realizar mediciones precisas de datos bidimensionales y tridimensionales.，El proceso general de inspección, desde la observación hasta la generación de informes, se ha vuelto simple y fluido.Puede ser ampliamente utilizadoEn semiconductores, textiles, Ciencias de los materiales, medicina, nueva energía, electrónica y otras industrias.

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