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Xiamen xinrui Instrument co., Ltd.
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2008 - 100x Japón Bijia peak lupa estereoscópica 100 veces peak stand micro

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Descripción general
Parámetros técnicos detallados: modelo 2008 - 252008 - 502008 - 752008 - 100 múltiplo integral 25x50x75x100x campo de visión Phi 3
Detalles del producto






Parámetros técnicos detallados:

Modelo 2008 - 252008 - 502008 - 752008 - 100
Múltiplo compuesto 25x50x75x100x
Campo de visión Phi 3,30 mm Phi 1,70 mm Phi 1,09 mm Phi 0,84 mm
Escala mínima 0,05 mm0,02 mm0,01 mm0 005 mm
Rango de determinación 3,0 mm1,6 mm1,0 mm0,8 mm