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Microscopía electrónica de doble haz

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Descripción general
Dualbeam Microscopy Science dualbeam thermoscience dualbeam es un sistema de análisis dualbeam de alta resolución que permite analizar numerosas muestras, incluidos materiales magnéticos, con excelentes propiedades 2D y 3D.
Detalles del producto

DualBeamMicroscopio

Scios DualBeam

Thermo Scientific ™ Scios ™ DualBeam ™Es un modelo de alta resoluciónDualBeamEl sistema de análisis puede ser excelente2DY3DAnálisis de rendimiento de muchas muestras, incluidos materiales magnéticos.Scios DualBeamLas funciones innovadoras pueden mejorar el flujo, la precisión y la facilidad de uso, y son muy adecuadas para la investigación y el análisis avanzados en entornos de investigación universitaria, gubernamental e industrial.

La tecnología de detección avanzada esThermo Scientific ™ Scios DualBeamTecnología central. Dentro de la lenteFEI Trinity ™La tecnología de detección puede recopilar todas las señales al mismo tiempo, lo que ahorra tiempo y contrasta fuertemente, lo que ayuda a recopilar la mayor cantidad de datos posible. El innovador detector de retrodispersión concéntrica bajo lente mejora la eficiencia al permitirle seleccionar la señal en función de su distribución angular, lo que permite separar fácilmente el contraste material y morfológico, incluso si la energía de aterrizaje es20 eVLo mismo ocurre.

Scios DualBeamAplicaciones científicas de materiales

Scios DualBeamEspecialmente adecuado para muchos materiales, como metales, compuestos y recubrimientos, puede:

  • La realización de imágenes de alta resolución y alto contraste no es una excepción para las muestras magnéticas.

  • UsoTrinityEl kit de detección detecta simultáneamente el contraste del material, la morfología y el borde, analizando así las diversas propiedades del material

  • Con la litografía de inhibición de la deriva, se pueden hacer rebanadas con especificidad de posición sin preparar muestras, e incluso se pueden operar materiales no conductores.

  • Generar cubos de datos tridimensionales para determinar el tamaño y la distribución de las inclusiones en el metal, o analizar el estrés y la tensión en todas las direcciones de la punta de la grieta

  • ColocaciónEasyLift ™Se pueden preparar muestras de alta calidad de manera rápida y confiable, y solo se necesita la menor energía de haz de electrones para obtener muestras de alta calidad.S/TEMResultados

  • ParaDealBeam Las aplicaciones comunes ofrecen guías de usuario únicas y flujos de trabajo progresivos que permiten a los operadores de cualquier nivel de experiencia comenzar de inmediato

  • https://www.fei.com/uploadedImages/FEISite/Pages/Products/DualBeam/Scios/Models/Scios2_ApplicationImage.jpg?n=9114