Verios XHR SEM

VeriosSí.FEILíderXHR(alta resolución)SEMProductos de segunda generación de la serie. En la fabricación de semiconductores de vanguardia y aplicaciones científicas de materiales, puede 1 A30 kVProporciona resolución de magnitud subnanométrica y contraste mejorado en el rango para satisfacer las necesidades de medición precisa de materiales sin debilitar el microscopio electrónico de barrido tradicional.(SEM)Alto rendimiento, capacidad de análisis,Ventajas como la flexibilidad y facilidad de uso de la muestra.

VeriosAplicaciones científicas de materiales

Para los científicos de materiales,VeriosSe puede ampliar la caracterización nanométrica a nuevos materiales que se están desarrollando actualmente (como partículas catalíticas, nanotubos, poros, interfaces, objetos biológicos y otras estructuras de nanomagnitud), permitiéndoles obtener nuevos descubrimientos importantes. No hay necesidad de cambiar aTEMU otras técnicas de imagen pueden obtener imágenes de alta resolución y Alto contraste.VeriosSe puede utilizar de manera flexible en diversas aplicaciones de investigación y puede acomodar grandes muestras como obleas de tamaño completo o muestras metalúrgicas. Puede realizar análisis rápidos en modo de alta corriente o realizar aplicaciones precisas de diseño de prototipos, como la deposición directa o la litografía de materiales inducidos por haz de electrones.

Excelente bajo voltajeSEMResolución y contraste de materiales

VeriosEstá diseñado para aumentar los resultados publicables de su laboratorio.VeriosSe puede500 eVA30 keVLa resolución subnanométrica dentro del rango energético completo se extiende a nuevos materiales (como partículas catalíticas, nanotubos, poros, interfaces, objetos biológicos y otras estructuras de nanomagnitud). No hay necesidad de cambiar aTEMU otras técnicas de imagen pueden obtener imágenes de alta resolución y Alto contraste.VeriosSe puede utilizar con flexibilidad en diversas aplicaciones de investigación y puede acomodar muestras grandes como obleas de tamaño completo o muestras metalúrgicas. Puede realizar análisis rápidos en modo de alta corriente o realizar aplicaciones precisas de diseño de prototipos, como la deposición directa o la litografía de materiales inducidos por haz de electrones.

Explorar alta resoluciónSEMEl mundo presentado

VeriosSí.FEILíderXHR SEMProductos de segunda generación de la serie, a través 1 A30 kVResolución subnanométrica del rango energético para proporcionar imágenes precisas. Es capaz de proporcionar el excelente contraste necesario para medir con precisión los materiales en una variedad de áreas de aplicación sin afectar el Alto rendimiento, la función de análisis, la flexibilidad de la muestra y la tradición.SEMFacilidad de uso.VeriosCon tecnologías únicas, como lentes de potencia constante que mejoran la estabilidad térmica y escaneos electrostáticos que mejoran la línea de desviación. Es muy flexible en la selección de parámetros, el procesamiento de grandes muestras o el soporte de más aplicaciones, como análisis o litografía. Con la ayuda deVerios XHR SEMTanto los usuarios temporales como los expertos pueden obtener datos precisos y completos de la magnitud de los nanómetros en poco tiempo y descubrir información que no se podía obtener cuando se utilizaban otras tecnologías antes.