Espectrómetro de lectura directa de espectro completo M4

El espectrómetro de lectura directa de espectro completo de la serie M adopta la tecnología de proceso de diseño y fabricación estándar internacional, la combinación de tecnología totalmente digital e internet, el uso de detectores CMOS de alta resolución y el sistema de barrido de argón de diseño de precisión, lo que hace que el instrumento tenga un rendimiento extremadamente alto, un costo extremadamente bajo y un precio muy competitivo.


M4Espectrómetro de lectura directa de espectro completo de alto rendimiento aplicado a múltiples sustratos
01 extremadamente excelente rendimiento analítico, estructura de instrumentos muy compacta
02 se utiliza para el análisis de una variedad de sustratos y materiales, que cubren casi todos los elementos importantes y pueden satisfacer las necesidades de aplicación de la gran mayoría de la industria moderna de fundición.
03 la rejilla holográfica de alto brillo tiene 3.600 líneas de grabado más altas / mm, lo que permite al sistema de luz de puntuación tener la mayor resolución.
La Cámara de barrido de argón 04 está equipada con un sistema de soplado de argón de baja velocidad de flujo optimizado para garantizar tanto el menor costo de uso como la mejor transmisión de la zona ultravioleta.
05 se aplica un sistema de lectura multimos de alta resolución, con una corriente oscura más baja, un mejor límite de detección, una mayor estabilidad y una mayor sensibilidad.
06 la tecnología DDD de fuente de luz compuesta inteligente totalmente digital satisface plenamente los requisitos de excitación de diferentes sustratos, diferentes muestras y diferentes elementos.
07 Mesa de chispas abierta integrada, que puede satisfacer el análisis de diversas estructuras de muestras diferentes.
08 configuración de múltiples curvas de corrección de fábrica y más métodos de análisis de materiales y soluciones avanzadas.
09 puede extender el límite superior e inferior de medición de la curva estándar de acuerdo con los requisitos de material del usuario.
Sistema de soplado de argón diseñado con precisión
La Cámara de luz tiene una fuerte estanqueidad y puede mantener la pureza interna del argón durante mucho tiempo.
El diseño optimizado del espacio de la Cámara óptica reduce el consumo de argón y ahorra efectivamente los costos de producción.
El sistema de soplado de argón bajo garantiza el entorno de medición de la banda ultravioleta de la Cámara de luz.
La carga de argón en la Cámara óptica está exenta de sistemas de vacío complejos.

Detector CMOS de alta resolución para realizar análisis de espectro completo
La Línea espectral cubre todos los elementos importantes y satisface el análisis de todas las matrices y materiales.
La detección de zona ultravioleta de alta sensibilidad hace que el análisis y la detección de n sean más precisos.
Puede seleccionar eficazmente las líneas sensibles de los elementos para garantizar la precisión del análisis.
La tecnología de ajuste de múltiples picos elimina eficazmente la interferencia de la Línea espectral y realiza mediciones precisas.


El software de análisis es potente
1) software de análisis gráfico de espectro completo de CLD basado en varios idiomas del sistema windows, conveniente y práctico;
2) gestionar de manera integral todo el proceso de medición de control y proporcionar a los usuarios una fuerte capacidad de procesamiento de datos y capacidad de salida de informes de prueba;
3) el instrumento se puede configurar con múltiples curvas de corrección de fábrica y más análisis de materiales y soluciones avanzadas;
4) el software realiza algoritmos de detección de espectro completo, interferencia inteligente de retención, corriente oscura de retención, Fondo y ruido, y mejora la capacidad de análisis del instrumento;
5) función completa de diagnóstico del sistema automático;
6) funciones perfectas de gestión de bases de datos que permiten consultar y resumir fácilmente los datos;
7) algoritmos de corrección inteligentes para garantizar que el instrumento sea estable y confiable;
8) información completa de la Línea espectral y algoritmos de deducción de interferencia para garantizar un análisis instrumental más preciso;
9) adaptarse al último sistema operativo windows.

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