Analizador de espectro de fluorescencia xau - x, medidor de espesor de recubrimiento, medidor de espesor de película

NegociableActualización en02/16

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Naturaleza del fabricante: Productores

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Descripción general

Xaurohs analiza la detección de elementos nocivos

Detalles del producto

	XAU
Análisis RoHS	Detección de elementos nocivos,RoHS (As, Pb, Hg, Cd, Cr, Br), 卤素
Detección de recubrimiento	Selección
Algoritmo EFP	estándar
Operación de software	Software cerrado humanizado, juicio automático de la corrección de indicaciones de falla y pasos de operación para evitar errores de operación
Detector	Detector de semiconductores si - Pin
Dispositivo de rayos X	Tubo de rayos de enfoque micro
Colimador	Φ5mm
Tecnología de enfoque de luz ligera	Difusión del punto de luz de rango más cercano 10%
Filtro	Dispositivo integrado de conmutación de filtro múltiple integrado
Observación de muestras	CLD de color 1 / 2.7 ", función de zoom
Enfoque	Lente de alta sensibilidad, enfoque manual
Ampliación	Óptica38-46X， Amplificación digital 40 - 200 veces
Tamaño del instrumento	470mm * 550mm * 480mm
Altura de la cavidad de la muestra	215 mm
Se mueve la Mesa de muestras	Nada
Peso del instrumento	45 kg
Otros anexos	Un juego de computadoras, impresoras, cajas de accesorios,Película estándar RoHS
Estándar de rayos X	DIN ISO 3497, Din 50987 y ASTM B 568

I. ventajas del producto:

Xau es un analizador espectral altamente integrado desarrollado para la detección y análisis de RoHS y halógenos;

Se utiliza ampliamente en el control de calidad de varios productos, la inspección de materiales entrantes y la medición y uso del control del proceso de producción;

1. MontajeDetector de semiconductores si - pin, que mejora en gran medida el alcance y la precisión de la detecciónV;

2. software cerrado humanizado, juzgando automáticamente los pasos de corrección y operación de los consejos de falla para evitar operaciones erróneas;

3. RoHS、 Detección de elementos nocivos halógenos, el límite mínimo de detección puede alcanzar 2 ppm;

4. Equipado con tecnología de aglomeración de luz ligera, la difusión del punto de medición de distancia más cercana es menor que10%V;

5. adoptar un sistema de posicionamiento de Cámara de alta definición, la observación de la muestra es clara y el posicionamiento es preciso;

6. el diseño modular altamente integrado de los accesorios básicos, la estructura compacta, evita la interferencia electromagnética mutua, mejora el límite de detección del instrumento y reduce la tasa de falla del instrumento;

7. diseño de fotografía inferior, medición rápida de muestras;

8. Un clicDetección rohs, identificación automática de categorías de materiales y coincidencia automática de programas para lograr un análisis con un solo clic.

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